回收 Tektronix371B

泰克371B 回收 Tektronix371B

泰克 371B 曲线跟踪仪用于测试各种功率半导体。Tektronix371B 是高功率曲线  器的行业 ，可对各种功率半导体执行直流参数表征，包括晶闸管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高压集电极模式允许测试高达 3,000 伏的器件的关闭特性。脉冲高电流集电极模式提供大于 400 安培峰值的输出电流脉冲，用于测试导通特性。它还允许进行高达 3,000 瓦的高功率测试。

Tektronix 371B 测量的交互式控制是从全功能前面板或通过 GPIB 完成的。每个操作参数都可以使用 GPIB 控制器进行控制。 上提供了 Tektronix 371B 系列 LabView 驱动程序。这些驱动程序具有许多构建块来创建自定义测量解决方案。

多 80 条数字化特性曲线可以存储在软盘或内部非易失性存储器中，只需按一下按钮即可调用。然后可以将实时曲线与先前存储的曲线进行比较，以评估温度漂移或操作参数的其他变化。为帮助识别数据，多可使用 24 个字符的文本来标记或注释曲线数据。可以使用多种存储方法调整、存储和调用操作参数，包括系统内存、内置 1.44 MB 软盘驱动器，或通过 GPIB 控制器发送到外部。

Tektronix 371B 提供三种光标测量模式。点光标提供任何点的电压、电流、gm 或 DC beta 的直接屏幕读数。窗口光标可以定位在两条曲线之间以测量小信号 beta 或 gm，也可以用于视觉通过/不通过测试。功能线光标提供斜率或截距值的屏幕读数。

测试夹具是一种标准附件，可提供安全的设备外壳，以确保在测量期间保护操作员。测试夹具可容纳带开尔文感应功能的标准适配器。

泰克 371B 高功率曲线跟踪仪的特点包括：

半导体器件的高精度测量

高压和电流源（高达 3,000 V 或 400 A）

内置光标测量 - 点、窗口和功能线

波形比较和平均开尔文检测测量

完全可编程

1.44 MB 软盘驱动器存储设置和曲线位图

使用第三方打印机直接打印硬拷贝

Tek 371B 曲线 踪器的替代品：Tektronix 371A