美国惠普 HP4155B半导体参数分析仪

特性

4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（VMUs）

1 fA 和0.2­UV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料

全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端

完成准静态的电容对电压测试

自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标

用泄漏的SMUs测量泄露特性

用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征

用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试

用图形用户界面完成“点击”测试

基于Windows环境的图形数据分析能力

旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常

待机模式不需要外部电源

触发模式可以同步AC/DC测试。

IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。

Agilent4156C精密半导体参数测试仪

Agilent4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为高级器件表征提供了高精

较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实基础。

41501B扩展测量能力到1A/200V，并给Agilent4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。