BeamMap2-CM狭缝扫描式光束质量分析仪

产品ID：S-BMS2-CM4-Si-5

品牌名称：美国Dataray

DataRay的BeamMap2代表了一种完全不同的实时光束分析方法。它通过允许沿光束行程的多个位置进行测量，扩展了Beam'R2的测量功能。这种实时狭缝扫描系统在旋转圆盘上的多个z平面中使用XY狭缝对，以同时测量四个不同z位置处的四个光束轮廓。 BeamMap2独特的设计最适用于焦点位置，M2，光束发散和指向的实时测量。

产品特点：

· 190至1150 nm，Si探测器

· 650至1800 nm，InGaAs 探测器

· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）探测器

· 光束直径~100 μm至~3 mm（1.5 mm加长InGaAs）

· 25 μm狭缝对与Si；0.1到2 μm采样间隔

· 50 μm狭缝对，带 InGaAs；0.1到2 μm采样间隔

· 实时±1 mr实时发散和指向测量精度

· 端口供电，USB2.0，灵活的3米电缆，没有电源砖

· 0.1 μm采样和分辨率

· 线性和对数X-Y轮廓

· 轮廓缩放和狭缝宽度补偿

· 实时多Z平面扫描狭缝系统

· 实时XYZ轮廓，焦点位置

· 实时M2、发散、准直、对准