Tektronix泰克371B 晶体管测试仪

特性和规格包括：

应用

手动或自动高分辨率 DC

半导体的参数表征

即将到来的检查

制造测试

过程监控和质量控制

数据表生成

元器件匹配

故障分析

工程

半导体器件的高功率测量

高达 3,000 伏特

高达 400 安培

高达 3,000 瓦

波形比较

信封展示

波形平均

3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盘存储

高压集电极模式允许测试高达 3,000 伏的器件的关闭特性。脉冲高电流集电极模式提供大于 400 安培峰值的输出电流脉冲，用于测试导通特性。

它还允许进行高达 3,000 瓦的高功率测试。在研发实验室中，Tektronix 371A Curve Trace 用于表征新设计、提取 SPICE 参数、故障分析和数据表生成。

在制造测试中，它用于验证设备质量和过程监控。