X射线荧光光谱仪（XRF）检测测试服务

X射线荧光光谱仪（XRF）检测测试服务

X射线荧光光谱仪（XRF）检测测试服务

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，和建材的调查和研究，艺术品，例如油画和壁画。不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。本法具有谱线简单、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点，是目前大气颗粒物元素分析中广泛应用的三大分析手段之一（其它两种方法为中子活化分析和质子荧光分析）。高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。

可测元素范围：常规测试范围11Na-92U，部分仪器可以测到O元素，如果需要测到O需要备注好。

制样方法：压片、融片

结果模式：单质、氧化物

一般是半定量测试，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。

1．可测元素范围：常规测试范围11Na-92U，有效元素测试范围为9号元素（F）-92号元素（U），部分仪器可以测到O元素，如果需要测到O需要备注好；

2．XRF测试仅能回收没有使用的样品，若样品量较少，一般不能回收；

3．样品量要求：粉末样品需要至少2g,样品粒度小于200目，完全烘干，粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明；

块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~112.5px之间，标明测试面（表面光滑平整），样品在测试之前尽量干燥；液体样品提供20ml；

轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其它合金不小于1mm，其它材料厚度需满足3-5mm。检测单元表面尽量平整，且尺寸为4-112.5px；

4．含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；

5．XRF的检测限约200个ppm左右，如果低于这个检测限，不太适合做XRF，对100ppm以下的数据只能作为参考，有的仪器噪声峰都有可能比这个高，请谨慎选择测试方式；

6．如因样品量过少或粘度低，硬度高等原因导致测试时必须用硼酸压片需另行支付压样成本费；

7．样品不焙烧、无法提供烧失量，请知悉；

8．由于受XRF光管Rh靶的影响，如若测试含Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明。

默认采用压片法测试，如果需要熔片法，请联系相关负责老师

制样指的是研磨，颗粒较大的样品才需要制样，自己已经研磨成粉末，在200目以下的，就不需要制样了

压片法：简单、快速、节省；熔片法：制样精密度好；均匀性好，样品要求高；不可用熔片法测试的样品：Pb 、Bi、Sb、Sn、Ag、Hg 的化合物、硫化物、磷和砷的化合物、卤素和能析出卤素的物质、碱金属氧化物、氢氧化物、硝酸盐、亚硝酸盐、氧化钡等含有腐蚀坩埚的物质，若隐瞒样品成分造成仪器损伤，需您承担责任。直接微区测试：运用仪器SPECTRO MIDEX，主要有用于定性分析。超出10%的样品可能无法直接压片测试，需把样品烧成灰，测试灰分