功率半导体标准动态特性测试系统

序号

项目

参数

备注

常规开通

通态电流

范围：200-10000A，连续可调；

主电容电压

范围：300-7000V，连续可调；

zuida导通电流宽度设定范围

10μs-5ms

上升时间测量范围

0.01-20μs±3%±0.05μs

开通反馈延迟时间测量范围

0.01-20μs±3%±0.05μs

开通延迟时间测量范围

0.01-20μs±3%±0.05μs

开通能量测量范围

0.01-200J±3%±0.1J

开通di/dt测量范围

10-5000A/μs±3%±10A/μs

常规关断

zuida关断电流

范围：200-10000A，连续可调；

关断反馈延迟时间测量范围

0.01-20μs±3%±0.05μs

关断延迟时间测量范围

0.01-40μs±3%±0.05μs

关断能量测量范围

0.01-1000J±3%±0.1J

断态电压上升率测量范围

10-5000V/μs±3%±10V/μs

断态电流下降率测量范围

10-10000A/μs±3%±10A/μs

*主回路寄生电感

≤300nH

极限关断

zuida关断电流

范围：＜20000A；

设备能力

数据采集和处理单元

示波器

带宽不低于500MHz，采样率不低于6.5Gs/s

试品控制方式

光纤控制

序号

项目

参数

备注

工作方式

自动，气动

压力范围

10～130KN；分辨率0.1 KN，精度±5%±1KN。

温度控制范围

70～180℃，分辨率0.1℃；

高压阳极控温器采用非接触式测温